IDT’2014

Le Symposium International sur la conception et le test est un atelier parrainé par IEEE- consacrée à l’exploration des défis émergeant, et de nouveaux concepts liés à la conception et à l’essai, l’automatisation, la fiabilité des produits électroniques allant du circuit intégrés aux modules multi-puces et des cartes de circuits imprimés à des systèmes et Microsystems complets.
IDT offre un forum unique pour discuter des meilleures pratiques et de nouvelles idées dans les méthodes de conception’ outillages, de tests et fiabilité dans le Moyen-Orient et l’Afrique (MEA).
Le Symposium est initié par et en collaboration avec le Conseil Technique du Test Technologique (TTTC) « Test Technology Technical Council TTTC » de IEEE, l’édition de 2014 est organisé et parrainé par CDTA (Centre de Développement des Technologies Avancées) en collaboration avec le réseau national de la Nano Micro Electroniques et Nano Micro Systèmes et l’université de Blida 1. Il est également parrainé par l’IEEE CEDA (Conseil sur le Design Electronique et l’Automation). La langue officielle de la conférence est l’anglais.