Laboratoire de Caractérisation
Four sous vide Neytech Qex 1200: (PSRE)
-Caractéristiques de l’appareil:
- Four sous vide primaire (ou sous atmosphère d’un gaz)
- température maximale de 1200°C.
écran alphanumérique multilingue programmable (100 programmes conventionnels) avec affichage graphique.
Tronçonneuse Brot 10202 :
Caractéristiques de l’appareil:
- Disques de tronçonnage de toutes configurations (résinoïde- diamanté- carbure de bore…).
- Le modèle de base à avance manuelle est équipé en option d’une avance automatique hydraulique dont l’énergie est fournie par le réseau d’eau de ville (Pression Mini 1,5 bars).
- La vitesse du disque de tronçonnage est variable jusqu’à 3000tr/mn.
Table à déplacement latéral pour tranches à faces parallèles.
Enrobeuse automatique « MECAPRESS II » :
Caractéristiques de l’appareil:
- Moule interchangeable. Ø 25,4 à 50 mm.
- Écran tactile. Mémorisation 50 process.
- Température ajustable entre 80° et 200°C
- 18 sous-programmes
- Technologie pneumatique, air comprimé.

Polisseuse automatique Mecapol 230:
Caractéristiques de l’appareil:
- La tête de polissage PE.RE permet de traiter jusqu’à 6 échantillons Ø 50 mm bridés dans une platine par pression centrale.
- Force de pression compris entre 0,5 à 30 daN.
- Temps de maintien entre 10 secondes à 99 minutes.
- Vitesse de rotation de 20 à 600 tr/mn.

Nanoscrach (indenteur) :
- Méthode de scratch par pointe diamant.
- Inspection des scratchs par analyse optique automatisée.
- Mesure de profondeur de rayure.

Microduromètre Vickers Zwick :
- Empreinte produite sur l’éprouvette par un diamant pyramidal avec la surface de base carrée et angle dièdre de 136°, avec une force et une durée d’action déterminée.
- Force d’essai entre 10 g et 5 Kg.
- Objectif caméra : X10 et X40 (entre 100 et 400 fois).

Microscope Optique métallographique Zeiss:
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- Objectif : X5, X10, X20, X50, X100 (de 50 à 1000 fois).

Etuve :
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- Température maximale 250°.

Diffractomètre Brukers D8 Advance :
- Le diffractomètre utilise le montage de BRAGG-BRENTANO avec une configuration Ө-2Ө (thêta deux thêta). - Source (anticathode) de cuivre. - Détecteur ponctuel à scintillation. - Plage d’acquisition entre °0 et 90°. Avec une précision de pas allant jusqu'à 0.01°. - Configuration en incidence rasante, avec un angle d’incidence minimale de 0.1°. - Logiciel d’exploitation Eva.

Microscope Electronique à Balayage Jeol JSM 6360LV :
Caractéristiques de l’appareil:
- Une résolution maximale de 50 nm.
- Le MEB est Couplé à l’EDS pour la microanalyse élémentaire.
- Tension maximal 30 kV.

