Laboratoire de Caractérisation

Four sous vide Neytech Qex 1200: (PSRE)

-Caractéristiques de l’appareil:

  1. Four sous vide primaire (ou sous atmosphère d’un gaz)
  2. température maximale de 1200°C.

écran alphanumérique multilingue programmable (100 programmes conventionnels) avec affichage graphique.

 

WW

 

Tronçonneuse Brot 10202 :

Caractéristiques de l’appareil:

  1.  Disques de tronçonnage de toutes configurations (résinoïde- diamanté- carbure de bore…).
  2. Le modèle de base à avance manuelle est équipé en option d’une avance automatique hydraulique dont l’énergie est fournie par le réseau d’eau de ville (Pression Mini 1,5 bars).
  3. La vitesse du disque de tronçonnage est variable jusqu’à 3000tr/mn.

Table à déplacement latéral pour tranches à faces parallèles.

 

BB

 

Enrobeuse automatique « MECAPRESS II » :

Caractéristiques de l’appareil:
- Moule interchangeable. Ø 25,4 à 50 mm.
- Écran tactile. Mémorisation 50 process.
- Température ajustable entre 80° et 200°C
- 18 sous-programmes

- Technologie pneumatique, air comprimé.

 

KK

Polisseuse automatique Mecapol 230:

Caractéristiques de l’appareil:
- La tête de polissage PE.RE permet de traiter jusqu’à 6 échantillons Ø 50 mm bridés dans une platine par pression centrale.
- Force de pression compris entre 0,5 à 30 daN.
- Temps de maintien entre 10 secondes à 99 minutes.
- Vitesse de rotation de 20 à 600 tr/mn.

 

KLM

 

Nanoscrach (indenteur) :

    • Méthode de scratch par pointe diamant.
    • Inspection des scratchs par analyse optique automatisée.
    • Mesure de profondeur de rayure.

     

    SQS

     

Microduromètre Vickers Zwick :

    • Empreinte produite sur l’éprouvette par un diamant pyramidal avec la surface de base carrée et angle dièdre de 136°, avec une force et une durée d’action déterminée.
    • Force d’essai entre 10 g et 5 Kg.
    • Objectif caméra : X10 et X40 (entre 100 et 400 fois).

 

SQQS

 

Microscope Optique métallographique Zeiss:

    • Objectif :  X5,  X10, X20, X50, X100  (de 50 à 1000 fois).

QQSDD

 

 

 

Etuve :

    • Température maximale 250°.

 

SDFR

 

 

Diffractomètre Brukers D8 Advance :

- Le diffractomètre utilise le montage de BRAGG-BRENTANO avec une configuration Ө-2Ө (thêta deux thêta). - Source (anticathode) de cuivre. - Détecteur ponctuel à scintillation. - Plage d’acquisition entre °0 et 90°. Avec une précision de pas allant jusqu'à 0.01°. - Configuration en incidence rasante, avec un angle d’incidence minimale de 0.1°. - Logiciel d’exploitation Eva.

 

VV

 

Microscope Electronique à Balayage Jeol JSM 6360LV :

Caractéristiques de l’appareil:

    • Une résolution maximale de 50 nm.
    • Le MEB est Couplé à l’EDS pour la microanalyse élémentaire.
    • Tension maximal 30 kV.

    S