{"id":8030,"date":"2019-09-23T14:07:50","date_gmt":"2019-09-23T14:07:50","guid":{"rendered":"http:\/\/10.1.5.53\/?page_id=8030"},"modified":"2021-01-28T10:29:14","modified_gmt":"2021-01-28T10:29:14","slug":"equipe-fcs","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/www.cdta.dz\/fr\/recherche-et-technologie\/divisions\/division-microelectronique-et-nanotechnologie\/equipes-de-recherche\/equipe-fcs\/","title":{"rendered":"Equipe FCS"},"content":{"rendered":"<p><strong>Chef d\u2019\u00e9quipe : Melle CHENOUF Amel<\/strong><\/p>\n<p>Le programme de l\u2019\u00e9quipe FCS a pour but la construction des capacit\u00e9s par le d\u00e9veloppement des comp\u00e9tences et des expertises en technologie de micro\u00e9lectronique ainsi que la mise en place des bancs de tests automatis\u00e9s pour la caract\u00e9risation \u00e9lectrique et l\u2019\u00e9valuation de la fiabilit\u00e9 des dispositifs. Pour se faire, deux objectifs sont vis\u00e9s. Le premier est de nature d\u00e9veloppement technologique \u00e0 travers le montage des plates-formes de caract\u00e9risation et de nouveaux bancs de test soft\/hard ad\u00e9quats pour l\u2019\u00e9valuation de la d\u00e9gradation ainsi que l\u2019automatisation des diff\u00e9rentes techniques de mesure\/stress\/mesure (M\/S\/M). Le second est d\u2019ordre recherche appliqu\u00e9e en traitant des probl\u00e8mes d\u2019actualit\u00e9 \u00e0 travers des \u00e9tudes exp\u00e9rimentales de la fiabilit\u00e9 des dispositifs \u00e0 semi-conducteurs ainsi que la fiabilit\u00e9 au niveau circuit. Ce programme a un impact r\u00e9el sur la plate-forme technologique de micro\u00e9lectronique PTM CMOS, 1\u00b5m, qui n\u00e9cessite des bancs de test et de caract\u00e9risation \u00e9lectriques pour \u00e9valuer la fiabilit\u00e9 et la dur\u00e9e de vie des dispositifs et circuits int\u00e9gr\u00e9s qu\u2019elle r\u00e9alise. Il est traduit sous forme d\u2019actions comme suit :<\/p>\n<ul>\n<li>D\u00e9veloppement de bancs de mesures rapides pour la caract\u00e9risation et le test de fiabilit\u00e9 des dispositifs MOS \u00e0 oxydes \u00e9pais (&gt; 10 nm) et minces (&lt;10 nm).<\/li>\n<li>D\u00e9veloppement de bancs de test sous champ magn\u00e9tique.<\/li>\n<li>D\u00e9veloppement de bancs de test sous un environnement contr\u00f4l\u00e9.<\/li>\n<li>D\u00e9veloppement d\u2019une interface de simulation NBTI pour le simulateur de Cadence Relxpert.<\/li>\n<li>D\u00e9veloppement de techniques de conception pour am\u00e9liorer la fiabilit\u00e9 des circuits int\u00e9gr\u00e9s.<\/li>\n<li>Fabrication des structures et circuits de tests pour valider les techniques de conception DFR.<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Membres de l\u2019\u00e9quipe <\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>TAHI Hakim (DR) <a href=\"mailto:htahi@cdta,dz\"><strong>htahi@cdta.dz<\/strong><\/a><\/li>\n<li>DJEZZAR Boualem (MRA) <strong><a href=\"mailto:bdjezzar@cdta,dz\">bdjezzar@cdta.dz<\/a><\/strong><\/li>\n<li>BENABDELMOUMENE Abdelmadjid (MRA) <a href=\"mailto:abenabdelmoumen@cdta,dz\"><strong>abenabdelmoumen@cdta.dz<\/strong><\/a><\/li>\n<li>TIMELLET Hakima (MRB) <a href=\"mailto:htimmelet@cdta.dz\"><strong>htimmelet@cdta.dz<\/strong><\/a><\/li>\n<li>CHENOUF Amel (AR) <a href=\"mailto:achenouf@cdta,dz\"><strong>achenouf@cdta.dz<\/strong><\/a><\/li>\n<li>TAHANOUT Cherifa (AR) <a href=\"mailto:ctahanout@cdta,dz\"><strong>ctahanout@cdta.dz<\/strong><\/a><\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Projets :<\/strong><\/p>\n<p><strong>Projet socio-\u00e9conomique<\/strong><\/p>\n<p><strong>Projet CBCEA : <\/strong>Conception et r\u00e9alisation d&rsquo;un banc de caract\u00e9risation automatis\u00e9 sous un environnement contr\u00f4l\u00e9.\u00a0<strong>Chef du projet\u00a0 : <\/strong>Abdelmadjid BENABDELMOUMENE.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Projet triennal<\/strong><\/p>\n<p><strong>Projet DOC\u00a0 : <\/strong>D\u00e9veloppement d\u2019Outils de Caract\u00e9risation: de la microstructure des d\u00e9fauts \u00e0 la d\u00e9gradation des circuits int\u00e8gres.\u00a0<strong>Chef Du Projet\u00a0 : <\/strong>Boualem DJEZZAR.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Expertise<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>D\u00e9veloppement de bancs (Soft\/hard) de caract\u00e9risation automatis\u00e9s pour la caract\u00e9risation de la fiabilit\u00e9 des dispositifs \u00e0 semi-conducteurs.<\/li>\n<li>Etudes de la fiabilit\u00e9 des dispositifs \u00e0 semi-conducteurs.<\/li>\n<li>Conception de circuits int\u00e9gr\u00e9s en vue de la fiabilit\u00e9.<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p><strong>Domaine d\u2019impact<\/strong><\/p>\n<p><strong>Niveau national<\/strong><\/p>\n<p>L\u2019installation de l\u2019industrie micro- et nano\u00e9lectronique en Alg\u00e9rie, ne pourra se faire qu\u2019apr\u00e8s avoir atteint une masse critique de comp\u00e9tences av\u00e9r\u00e9es. Par cons\u00e9quent, une prise en charge des ing\u00e9nieurs en termes d\u2019encadrement et de formation pratique hautement qualifi\u00e9e au standard international est plus que n\u00e9cessaire. Notre contribution peut se r\u00e9sumer par les points suivants:<\/p>\n<ul>\n<li>Soutenir la plateforme technologique de micro-fabrication en mati\u00e8re de caract\u00e9risation \u00e9lectrique et fiabilit\u00e9 des circuits.<\/li>\n<li>Former des th\u00e9sards \u00e0 travers des projets de th\u00e8ses de doctorat bien cibl\u00e9s sur nos propres besoins.<\/li>\n<li>Aider les laboratoires universitaires \u00e0 initier des recherches exp\u00e9rimentales en installant des bancs de test de fiabilit\u00e9 des composants semi-conducteurs ainsi que des plateformes de mod\u00e9lisation afin d\u2019atteindre la masse critique nationale pour former une communaut\u00e9 de fiabilit\u00e9 des composants semi-conducteurs.<\/li>\n<li>\u0152uvrer \u00e0 la compl\u00e9mentarit\u00e9 dans la collaboration nationale avec les universit\u00e9s et centres de recherche.<\/li>\n<li>Assister et contribuer au d\u00e9ploiement des bancs de tests au niveau des universit\u00e9s.<\/li>\n<li>Implication dans les \u00e9coles doctorales en micro\u00e9lectronique.<\/li>\n<li>Offrir des prestations de service en mati\u00e8re de caract\u00e9risation \u00e9lectrique au profit des universit\u00e9s et centres de recherche nationaux.<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Niveau international<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Etablir des collaborations internationales gagnant-gagnant (win-win) autour de la th\u00e9matique \u00ab\u00a0fiabilit\u00e9 des dispositifs\u00bb.<\/li>\n<li>Viser l\u2019excellence \u00e0 travers des publications de haut niveau, telles que IEEE, Elsevier \u2026etc.<\/li>\n<li>Participer \u00e0 des conf\u00e9rences sp\u00e9cialis\u00e9es organis\u00e9es par les soci\u00e9t\u00e9s savantes telles IEEE, Elsevier.<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Chef d\u2019\u00e9quipe : Melle CHENOUF Amel Le programme de l\u2019\u00e9quipe FCS a pour but la construction des capacit\u00e9s par le d\u00e9veloppement des comp\u00e9tences et des expertises en technologie de micro\u00e9lectronique ainsi que la mise en place des bancs de tests automatis\u00e9s pour la caract\u00e9risation \u00e9lectrique et l\u2019\u00e9valuation de la fiabilit\u00e9 des dispositifs. 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