Chef d’équipe : Melle CHENOUF Amel

Le programme de l’équipe FCS a pour but la construction des capacités par le développement des compétences et des expertises en technologie de microélectronique ainsi que la mise en place des bancs de tests automatisés pour la caractérisation électrique et l’évaluation de la fiabilité des dispositifs. Pour se faire, deux objectifs sont visés. Le premier est de nature développement technologique à travers le montage des plates-formes de caractérisation et de nouveaux bancs de test soft/hard adéquats pour l’évaluation de la dégradation ainsi que l’automatisation des différentes techniques de mesure/stress/mesure (M/S/M). Le second est d’ordre recherche appliquée en traitant des problèmes d’actualité à travers des études expérimentales de la fiabilité des dispositifs à semi-conducteurs ainsi que la fiabilité au niveau circuit. Ce programme a un impact réel sur la plate-forme technologique de microélectronique PTM CMOS, 1µm, qui nécessite des bancs de test et de caractérisation électriques pour évaluer la fiabilité et la durée de vie des dispositifs et circuits intégrés qu’elle réalise. Il est traduit sous forme d’actions comme suit :

  • Développement de bancs de mesures rapides pour la caractérisation et le test de fiabilité des dispositifs MOS à oxydes épais (> 10 nm) et minces (<10 nm).
  • Développement de bancs de test sous champ magnétique.
  • Développement de bancs de test sous un environnement contrôlé.
  • Développement d’une interface de simulation NBTI pour le simulateur de Cadence Relxpert.
  • Développement de techniques de conception pour améliorer la fiabilité des circuits intégrés.
  • Fabrication des structures et circuits de tests pour valider les techniques de conception DFR.

Membres de l’équipe

 

Projets :

 

Projet socio-économique

Projet CBCEA : Conception et réalisation d’un banc de caractérisation automatisé sous un environnement contrôlé. Chef du projet  : Abdelmadjid BENABDELMOUMENE.

 

Projet triennal

Projet DOC  : Développement d’Outils de Caractérisation: de la microstructure des défauts à la dégradation des circuits intègres. Chef Du Projet  : Boualem DJEZZAR.

 

Expertise

  • Développement de bancs (Soft/hard) de caractérisation automatisés pour la caractérisation de la fiabilité des dispositifs à semi-conducteurs.
  • Etudes de la fiabilité des dispositifs à semi-conducteurs.
  • Conception de circuits intégrés en vue de la fiabilité.

 

Domaine d’impact

Niveau national

L’installation de l’industrie micro- et nanoélectronique en Algérie, ne pourra se faire qu’après avoir atteint une masse critique de compétences avérées. Par conséquent, une prise en charge des ingénieurs en termes d’encadrement et de formation pratique hautement qualifiée au standard international est plus que nécessaire. Notre contribution peut se résumer par les points suivants:

  • Soutenir la plateforme technologique de micro-fabrication en matière de caractérisation électrique et fiabilité des circuits.
  • Former des thésards à travers des projets de thèses de doctorat bien ciblés sur nos propres besoins.
  • Aider les laboratoires universitaires à initier des recherches expérimentales en installant des bancs de test de fiabilité des composants semi-conducteurs ainsi que des plateformes de modélisation afin d’atteindre la masse critique nationale pour former une communauté de fiabilité des composants semi-conducteurs.
  • Œuvrer à la complémentarité dans la collaboration nationale avec les universités et centres de recherche.
  • Assister et contribuer au déploiement des bancs de tests au niveau des universités.
  • Implication dans les écoles doctorales en microélectronique.
  • Offrir des prestations de service en matière de caractérisation électrique au profit des universités et centres de recherche nationaux.

Niveau international

  • Etablir des collaborations internationales gagnant-gagnant (win-win) autour de la thématique « fiabilité des dispositifs».
  • Viser l’excellence à travers des publications de haut niveau, telles que IEEE, Elsevier …etc.
  • Participer à des conférences spécialisées organisées par les sociétés savantes telles IEEE, Elsevier.